Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Автор книги: Andrew Thye Shen Wee id книги: 2285302     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 10670,7 руб.     (123,19$) Купить и читать книгу Электронная книга Жанр: Техническая литература Правообладатель и/или издательство: John Wiley & Sons Limited Дата добавления в каталог КнигаЛит: 12 марта 2022, 16:32 ISBN: 9783527833948 Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.