Описание книги
Монография посвящена вопросам повышения качества спектрального анализа и оптической диагностики материалов, процессов и изделий с помощью методов анализа многопараметрических данных. Рассматриваются основы многопараметрических методов, таких как метод главных компонент, метод частичных наименьших квадратов, дискриминантный анализ, построение классификационных деревьев, кластерный анализ, метод опорных векторов, генетический алгоритм, методы выбора спектральных переменных, а также приводятся литературные и оригинальные примеры их научных и практических применений в спектроскопии. Адресуется студентам старших курсов университетов и специалистам, работающим в области спектроскопии. Табл. 2. Ил. 52. Библиогр.: 143 назв.