Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Автор книги: id книги: 94791     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 96 руб.     (0,96$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Математика Правообладатель и/или издательство: НОУ «МФПУ «Синергия» Дата публикации, год издания: 2014 Дата добавления в каталог КнигаЛит: Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Подняться наверх