Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques

Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques
Автор книги: id книги: 978876     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 18281,9 руб.     (178,23$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Зарубежная образовательная литература Правообладатель и/или издательство: John Wiley & Sons Limited Дата добавления в каталог КнигаЛит: ISBN: 9783527639564 Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

Bringing together experts from the various disciplines involved, this first comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale is unique in combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques. Essential reading for researchers in microelectronics, optoelectronics, sensing, and photonics.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques
Подняться наверх