Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Авторы книги: id книги: 877800     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 340 руб.     (3,32$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Техническая литература Правообладатель и/или издательство: НИТУ «МИСиС» Дата публикации, год издания: 2016 Дата добавления в каталог КнигаЛит: Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Подняться наверх