An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Автор книги: id книги: 1573114     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 3129,18 руб.     (30,38$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Техническая литература Правообладатель и/или издательство: Ingram Дата добавления в каталог КнигаЛит: ISBN: 9781681740881 Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Подняться наверх