Теория тестирования логических устройств

Теория тестирования логических устройств
Автор книги: id книги: 556051     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 349 руб.     (3,41$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Учебная литература Правообладатель и/или издательство: "Физматлит" Дата публикации, год издания: 2006 Дата добавления в каталог КнигаЛит: ISBN: 5-9221-0727-5 Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

Тестирование логических устройств – активно развивающееся научно-прикладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде. Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов. Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Теория тестирования логических устройств
Подняться наверх