Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Авторы книги: id книги: 877257     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 392 руб.     (3,91$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Техническая литература Правообладатель и/или издательство: НИТУ «МИСиС» Дата публикации, год издания: 2006 Дата добавления в каталог КнигаЛит: Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Подняться наверх