Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Автор книги: id книги: 895601     Оценка: 0.0     Голосов: 0     Отзывы, комментарии: 0 115 руб.     (1,15$) Купить и читать книгу Купить бумажную книгу Электронная книга Жанр: Учебная литература Правообладатель и/или издательство: НГТУ Дата добавления в каталог КнигаЛит: ISBN: 978-5-7782-1618-1 Возрастное ограничение: 0+

Реклама. ООО «ЛитРес», ИНН: 7719571260.

Описание книги

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

Добавление нового отзыва

Комментарий Поле, отмеченное звёздочкой  — обязательно к заполнению

Отзывы и комментарии читателей

Нет рецензий. Будьте первым, кто напишет рецензию на книгу Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Подняться наверх